Оценка качества термоэлектронных катодов сверхвысокочастотных электровакуумных приборов с использованием характеристик низкочастотного шума

  • Михаил [Mikhail] Дмитриевич [D.] Воробьев [Vorobyev]
  • Дмитрий [Dmitriy] Николаевич [N.] Юдаев [Yudaev]
  • Андрей [Andrey] Юрьевич [Yu.] Зорин [Zorin]
Ключевые слова: термоэлектронный катод, образ катода, низкочастотный шум, дефекты

Аннотация

Предложено оценивать качество эмитирующей поверхности термокатодов в электровакуумных СВЧ-приборах по уровню и форме спектральных характеристик низкочастотных шумов. За основу приняты представления о механизме возникновения шумов за счет миграционного потока активирующих атомов по поверхности слабоэмитирующих эмиссионных дефектов. Шумы появляются вследствие флуктуаций работы выхода из-за случайного изменения числа активирующих атомов на поверхности дефекта. Эмитирующая поверхность катода содержит как эмиссионные центры с малой работой выхода, с которых преимущественно отбирается ток при значительном демпфировании шума пространственным зарядом, так и слабоэмитирующие участки с повышенной работой выхода, находящиеся в режиме насыщения при отсутствии пространственного заряда, вносящие преимущественный вклад в шумы и выполняющие роль эмиссионных дефектов. Разработана методика предварительной обработки измеренных спектральных характеристик шума, включающая сглаживание и усреднение с помощью алгоритмов медианной фильтрации и интерполяции кубическим сплайном, и последующую декомпозицию на отдельные компоненты с использованием предварительно смоделированных базовых компонент для дефектов различных размеров. Методика декомпозиции реализована в виде компьютерной программы на основе синтеза спектральных характеристик путем сложения в различных сочетаниях базовых компонент. Для группы однотипных металлопористых термокатодов на базе губки (W–Re), пропитанной соединениями Ba и покрытой тонкой пленкой Os, установлено количественное содержание дефектов в зависимости от их размеров — образы катодов. Найденные значения площади дефектов возрастают по мере увеличения времени наработки и пропорциональны квадрату отбираемых с катодов токов. Показано, что большей площади дефектов, полученной по спектральным характеристикам шума до начала испытаний на длительную наработку, соответствует большая деградация эмиссионных параметров катодов после испытаний. Таким образом, измерение низкочастотных шумов и обработка результатов после расширенного экспериментального подтверждения на больших партиях катодов может рассматриваться как инструмент для прогнозирования и оценки надежности ЭВП.

Сведения об авторах

Михаил [Mikhail] Дмитриевич [D.] Воробьев [Vorobyev]

Учёная степень:

доктор технических наук

Место работы

кафедра Электроники и наноэлектроники НИУ «МЭИ»

Должность

профессор

Дмитрий [Dmitriy] Николаевич [N.] Юдаев [Yudaev]

Место работы

кафедра Электроники и наноэлектроники НИУ «МЭИ»

Должность

ведущий инженер

Андрей [Andrey] Юрьевич [Yu.] Зорин [Zorin]

Учёная степень:

кандидат технических наук

Место работы

кафедра Электроники и наноэлектроники НИУ «МЭИ»

Должность

профессор

Литература

1. Кислицын А.П. Контроль эмиссионной неоднородности рабочей поверхности термокатода в процессе эмиссионных испытаний // Авиационно-космическая техника и технология. 2015. № 4 (121). C. 90—95.

2. Vandamme L.K.J. Noise as a Diagnostic Tool for Quality and Reliability of Electronic Devices // IEEE Trans. Electron Devices. 1994. V. 41. No. 11. Pp. 2176—2187.

3. Шитов Е.М. Программно-аппаратный комплекс для шумовой диагностики термоэлектронных катодов электровакуумных приборов: автореф. дис. ... канд.техн. наук. Рязань, 2014.

4. Маковийчук М.И. Фликкер-шумовая спектроскопия. Структурно-неупорядоченные полупроводники. Саарбрюккен (Германия): Lap Lambert Academic Publ., 2013.

5. Ван дер Зил А. Флуктуационные явления в полупроводниках. М.: Изд-во иностр. лит-ры, 1961.

6. Hasker J.A.M., Van Dorst P. Pitfalls in the Evaluation of Cathode Properties from I–V Characteristics // IEEE Trans. on Electron Devices. 1989. V. 36. No. 1. Pp. 201—208.

7. Дюбуа Б.Ч., Култашев О.К., Поливникова О.В. Эмиссионная электроника, нанотехнология, синергетика (к истории идей в катодной технологии) // Электронная техника. Cерия «СВЧ-техника». 2008. Вып. 4 (497). C. 3—22.

8. Van Vliet K.M., Chenette E.R. Noise Spectra Resulting from Diffusion Processes in a Cylindrical Geometry // Physica. 1965. V. 31. Iss.7. Pp. 985—1001.

9. Воробьев М.Д., Юдаев Д.Н. Шумовая диагностика термокатодов в составе электронно-лучевой пушки // Прикладная физика. 2010. № 5. С. 60—65.

10. Cortenraad R. Surface Analysis of Thermionic Dispenser Cathodes. Eindhoven: Techn. Un-t Eindhoven, 2000.

11. Воробьев М.Д., Юдаев Д.Н., Зорин А.Ю., Чудин В.Г. Низкочастотные шумы термоэлектронных катодов как источник информации о состоянии эмитирующей поверхности // Вакуумная наука и техника: Материалы XXII науч.-техн. конф. с участием зарубежных специалистов. Феодосия, 2015. С. 266—269.

12. Воробьев М.Д., Кумов Я.С., Юдаев Д.Н. Создание образа поверхности с эмиссионными дефектами на основе измерения низкочастотных шумов отбираемого тока // Современные технологии в науке и образовании: Сб. трудов Междунар. науч.-техн. и науч.- метод. конф. 2017. Т. 1. С. 266—269.
---
Для цитирования: Воробьев М.Д., Юдаев Д.Н., Зорин А.Ю. Оценка качества термоэлектронных катодов сверхвысокочастотных электровакуумных приборов с использованием характеристик низкочастотного шума // Вестник МЭИ. 2018. № 5. С. 120—127. DOI: 10.24160/1993-6982-2018-5-120-127.
#
1. Kislicyn A.P. Kontrol' Emissionnoy Neodnorodnosti Rabochey Poverkhnosti Termokatoda v Processe Emissionnykh Ispytaniy. Aviacionno-kosmicheskaya Tekhnika i Tekhnologiya. 2015;4 (121):90—95. (in Russian).

2. Vandamme L.K.J. Noise as a Diagnostic Tool for Quality and Reliability of Electronic Devices. IEEE Trans. Electron Devices. 1994;41;11:2176—2187.

3. Shitov E.M. Programmno-apparatnyy Kompleks dlya Shumovoy Diagnostiki Termoelektronnykh Katodov Elektrovakuumnykh Priborov: Avtoref. Dis. ... Kand. Tekhn. Nauk. Ryazan', 2014. (in Russian).

4. Makoviychuk M.I. Flikker-shumovaya Spektroskopiya. Strukturno-neuporyadochennye Poluprovodniki. Saarbryukken (Germaniya): Lap Lambert Academic Publ., 2013. (in Russian).

5. Van der Zil A. Fluktuacionnye Yavleniya v Poluprovodnikakh. M.: Izd-vo Inostr. Lit-ry, 1961. (in Russian).

6. Hasker J.A.M., Van Dorst P. Pitfalls in the Evaluation of Cathode Properties from I–V Characteristics. IEEE Trans. on Electron Devices. 1989;36;1:201—208.

7. Dyubua B.Ch., Kultashev O.K., Polivnikova O.V. Emissionnaya Elektronika, Nanotekhnologiya, Sinergetika (k Istorii Idey v Katodnoy Tekhnologii). Elektronnaya Tekhnika. Ceriya «SVCH-tekhnika». 2008;4 (497):3—22. (in Russian).

8. Van Vliet K.M., Chenette E.R. Noise Spectra Resulting from Diffusion Processes in a Cylindrical Geometry. Physica. 1965;31;7: 985—1001.

9. Vorob'ev M.D., Yudaev D.N. Shumovaya Diagnostika Termokatodov v Sostave Elektronno-luchevoy Pushki. Prikladnaya Fizika. 2010;5:60—65. (in Russian).

10. Cortenraad R. Surface Analysis of Thermionic Dispenser Cathodes. Eindhoven: Techn. Un-t Eindhoven, 2000.

11. Vorob'ev M.D., Yudaev D.N., Zorin A.Yu., Chudin V.G. Nizkochastotnye Shumy Termoelektronnykh Katodov kak Istochnik Informacii o Sostoyanii Emitiruyushhey Poverkhnosti. Vakuumnaya Nauka i Tekhnika: Materialy XXII Nauch.-tekhn. Konf. s Uchastiem Zarubezhnykh Specialistov. Feodosiya, 2015:266—269. (in Russian).

12. Vorob'ev M.D., Kumov Ya.S., Yudaev D.N. Sozdanie Obraza Poverkhnosti s Emissionnymi Defektami na Osnove Izmereniya Nizkochastotnykh Shumov Otbiraemogo Toka. Sovremennye Tekhnologii v Nauke i Obrazovanii: Sb. Trudov Mezhdunar. Nauch.-tekhn. i Nauch.metod. Konf. 2017;1:266—269. (in Russian).
---
For citation: Vorobyev M.D., Yudaev D.N., Zorin A.Yu. Estimating the Quality of Thermionic Cathodes for Microwave Vacuum Tubes Using the Low-Frequency Noise Parameters. MPEI Vestnik. 2018;5:120—127. (in Russian). DOI: 10.24160/1993-6982-2018-5-120-127.
Опубликован
2018-10-01
Раздел
Радиотехника и связь (05.12.00)